Estudaram-se as propriedades semicondutoras de filmes passivos formados em aço inoxidável AISI 304 e em ligas de base Ni (Alloy 600) em soluções tampão de borato. Os filmes foram estudados por medidas de capacidade (Mott-Schottky ) e de fotocorrente. Estudaram-se também filmes formados em aço inoxidável AISI 304 por oxidação ao ar, à temperatura de 350ºC. Os resultados mostram que a estrutura electrónica dos filmes é comparável à de uma heterojunção do tipo p-n, onde as cargas de espaço desenvolvidas nas interfaces filme -- metal e filme -- electrólito devem ser consideradas. O estudo electroquímico está de acordo com os resultados analíticos que demonstram que os filmes de óxido são, em todos os casos, compostos por uma região interna rica em óxido de crómio e por uma região externa rica em óxido de ferro.

The semiconducting properties of passive films formed on AISI 304 stainless steel and Alloy 600 in borate buffer solution were studied by capacitance (Mott-Schottky approach) and photocurrent measurements. Oxide films formed on 304 stainless steel in air at 350 ºC have also been studied. The results obtained show that, in all cases the electronic structure of the films is comparable to that of a p-n heterojunction in which the space charges developed at the metal-film and film-electrolyte interfaces have also to be considered. This is in accordance with analytical results showing that the oxide films are in all cases composed of an inner region rich in chromium oxide and an outer region rich in iron oxide.